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Modern semiconductor devices for integrated circuits / Chenming Calvin Hu.
Tipo de material:
TextoIdioma: Inglés Detalles de publicación: Upper Saddle River, N.J. : Prentice Hall, c2010.Descripción: xv, 351 p. : il., grafs., etcISBN: - 0136085253
- 9780136085256
- 621.381531 H874 22 ed.
Contenidos:
Cap. 1. Electrons and holes in semiconductors -- 2. Motion and recombination of electrons and holes -- 3. Device fabrication technology -- 4. PN and metal-semiconductor junctions -- 5. MOS capacitor -- 6. MOS transitor -- 7. MOSFETs in ICs-scaling, leakage, and other topics -- 8. Bipolar transitor.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Biblioteca de origen | Colección | Signatura topográfica | Info Vol | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
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Préstamo externo (6 días)
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Biblioteca Central | Biblioteca Central | General | 621.381531 H874 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej.1 | Disponible | 10101000001043590 |
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| 621.3815287 H774 Dispositivos Electrónicos de Potencia: | 621.3815287 L728 Tiristores y triacs/ | 621.38153 G643 Circuitos Impresos: | 621.381531 H874 Modern semiconductor devices for integrated circuits / | 621.381531 S965 Circuitos impresos : | 621.381532 Ch484 Parásitos y perturbaciones en electrónica / | 621.381532 Ch484 Parásitos y perturbaciones en electrónica / |
Includes bibliographical references and index.
Cap. 1. Electrons and holes in semiconductors -- 2. Motion and recombination of electrons and holes -- 3. Device fabrication technology -- 4. PN and metal-semiconductor junctions -- 5. MOS capacitor -- 6. MOS transitor -- 7. MOSFETs in ICs-scaling, leakage, and other topics -- 8. Bipolar transitor.
Disponible en la Colección General : Biblioteca Central.
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